Cnr-Iom Lead Partner

Consiglio nazionale delle ricerche - Istituto officina dei materiali

Trieste, Italy

Missione e Identità

L'Istituto Officina dei Materiali (Iom) del Consiglio Nazionale delle Ricerche (Cnr) è un centro di ricerca interdisciplinare che unisce sintesi di materiali, caratterizzazioni avanzate e simulazioni numeriche, concentrandosi sullo studio e lo sviluppo di materiali e dispositivi innovativi alla nanoscala. Centro di eccellenza in ambito nanotecnologico e punto di riferimento nazionale per la gestione e l’accesso alle grandi infrastrutture di luce di sincrotrone e di scattering di neutroni, il Cnr-Iom, è stato istituito nel 2010 unendo esperienze, competenze e strumentazione provenienti dall'Istituto Nazionale di Fisica della Materia – INFM.

La mission dell’istituto è quella di portare nuove conoscenze sui processi fondamentali che determinano le funzionalità di sistemi fisici, chimici e biologici, sulle proprietà di materiali avanzati e sulla loro fabbricazione, con ricadute nei campi delle nano scienze e nano tecnologie.

 

Infrastrutture

Oggi, Iom è distribuito su 3 sedi e 2 unità di ricerca congiunte:

  • Sede centrale @ AREA Science Park, Trieste
  • Centro di simulazione @ SISSA, Trieste
  • Laboratorio SLACS @ Università di Cagliari
  • Unità di ricerca di Grenoble, @ Grenoble, Francia
  • Unità di Ricerca di Perugia, @ Università degli Studi di Perugia

Iom gestisce inoltre 7 beam-lines presso Sincrotrone Trieste, 1 beamline presso ESRF grenoble e due beamline s presso ILL – Grenoble.

 

 

Contatti

Edificio Q2, Area Science Park, Strada Statale 14, km 163,5, 34149 Basovizza TS

Principal Investigators

Simone Dal Zilio
Scienziato
dalzilio@iom.cnr.it
Marco Lazzarino
Responsabile di progetto
Responsabile dell'apparato MOKE e del sistema XPS-XMCD sulla beamline APE-HE del Sincrotrone.

Tecniche principali

Micro e nanofabbricazione
• Coating: Sputtering, evaporazione termica e da fascio elettronico, Plasma enhanced Chemical vapour deposition, spin coating, doctor blade, fornaci p
Microscopia e Nano-Caratterizzazione
• Microscopia ettronica a scansione (SEM) • Microscopia a fascio di ioni (FIB) • Profilometria ottica e a stilo